摘要
电子设备的测试方法多种多样,从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备(ATE)。本文重点讨论一种具有较高性价比的中等规模测试方案。
The complexity of electronic-device testing varies widely, ranging from the simplest type (manual testing ) to the most complex (large-scale automatic test equipment). This article focuses on a low-cost, high- performance medium-scale testing manner.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第9期69-72,共4页
Semiconductor Technology