期刊文献+

系统单芯片测试之趋势及未来挑战

下载PDF
导出
摘要 2 嵌入式内存之测试 SOC可提升系统性能、减少耗能与电磁干扰EMI问题、降低封装测试与空间成本,以符合产业缩小尺寸与轻薄短小的趋势,在许多应用上SOC皆已成为主要的研究方向,例如处理器、移动电话、调制解凋器等产品。这类SOC芯片整合了数字逻辑、模拟电路。
机构地区 安捷伦科技
出处 《集成电路应用》 2001年第6期30-32,共3页 Application of IC

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部