测量晶体管特性的新方法

A NEW METHOD OF MEASURING CHARACTERISTICS OF TRANSISTORS

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摘要给出了测量晶体二极管伏安特性、三极管输入特性的一种简单、直观的方法 ,分析了此方法的线路连接。 In this paper, a simple and visualized method is given, which can be used to measure the volt ampere characteristics of semiconductor diodes and the input characteristics of semiconductor triodes, and the circuit conjunction, experimental method and experimental theory are introduced.

作者尹慧

机构地区曲阜师范大学物理系

出处《曲阜师范大学学报（自然科学版）》 CAS 2002年第1期56-57,共2页 Journal of Qufu Normal University(Natural Science)

关键词伏安特性输入特性三极管晶体二极管电子线路实验特性曲线测量方法 semiconductor diodes Volt Ampere characteristics input characteristics semiconductor triodes

分类号 TN320.7 [电子电信—物理电子学]

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曲阜师范大学学报（自然科学版）

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