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电子封装镀金液中镍杂质的光度分析 被引量:1

Photometric Determination of Nickel( Ⅱ ) as Impurity in Gold Plating Bath Used in Microelectronic Package
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出处 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第9期422-422,424,共2页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献2

  • 1杨晓战,电子工艺技术,1998年,19卷,1期
  • 2沈卓身,半导体技术,1996年,21卷,5期

共引文献7

同被引文献79

引证文献1

二级引证文献1

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