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瓷绝缘子棕红釉黑色网状缺陷形成机理探讨 被引量:2

Mechanism of Formation of Black Network Deficiency on Brown-red Glazed Insulators
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摘要 采用 OM、SEM、XRD、DTA、EPMA等手段 ,系统研究了瓷绝缘子棕红釉面黑色网状缺陷的工艺及结构特征 ,探讨了缺陷形成的机理。结果表明 ,这种缺陷产生的主要原因是由于使用了氧化物着色及原料配比、釉浆性能、施釉厚度、烧成温度、烧成气氛控制不当所致。 It was studied on the black network deficiency in the electric porcelain′s brown red glaze in technology and structure by means of OM,SEM,XRD,DTA,EPMA etc.The deficiency′s forming mechanism is studied as well.The result indicates that the deficiency is referred to improper use of the oxide colourant and material composition, the control of glaze property, glaze thickness,the firing temperature and the firing atmosphere control.
出处 《电瓷避雷器》 CAS 北大核心 2001年第5期3-8,共6页 Insulators and Surge Arresters
关键词 复合尖晶石 结晶分相 黑色网状结构 瓷绝缘子 棕红釉 insulator complex spinel crystallization and phase separation black network structure
  • 相关文献

参考文献4

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  • 4RICHARD. A. EPPLER.American Ceramic Society Bulletin[J].1981,11(8):847.

共引文献7

同被引文献10

引证文献2

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