双口RAM在嵌入式系统调试中的应用被引量：2

The application of dual port to debugging embedded system

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摘要本文结合双口RAM特点,介绍了它在嵌入式PLC系统软硬件调试中的应用,总结了双口RAM在嵌入式系统设计和调试中简捷高效的优点。

作者赵建东陈恳王广炎

机构地区清华大学精仪系西北工业大学十系

出处《电子产品世界》 2002年第01A期62-63,共2页 Electronic Engineering & Product World

关键词双口RAM 嵌入式系统系统调试

同被引文献4

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电子产品世界

2002年第01A期

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