摘要
利用热场发射理论和数值计算方法 ,分析了碲镉汞光伏器件的电流 -电压特性 ,提取了金属 -半导体 (MS)界面参数 ,并对这些参数进行了讨论 .结果表明 ,Sn/Au金属膜 -碲镉汞薄膜 PN器件的电极界面的势垒高度锁定在“Bardeen”限 ,界面密度比介质膜
The MS interface parameters are extracted from HgCdTe PV devices' current voltage characteristic by applying Thermionic Field Emission(TFE) theory and numerical analysis.Discussion shows that the barrier height of Sn/Au HgCdTe contact is pinned at 'Bardeen limit' and the interface state density is one magnitude higher than that of the dielectric film HgCdTe interface.
基金
国家自然科学基金资助项目 (批准号 :1980 5 0 14 )~~