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用测量单晶硅正电子寿命谱来确定最佳的FWHM的方法

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摘要 本文用高纯单晶硅作为标准样品,利用正电子寿命谱仪测量其寿命谱,用POSITRONFIT-EXTFNDED程序对其进行处理时,用一系列FWHM值作单高斯拟合,得到相应的单晶硅的平均寿命τ及其拟合度Q,取拟合度Q最小且τ也最接近标准寿命所输入的 FWHM作为最佳的数值。此法确定的 FWHM=220ps,以及用 RESOLUTION程序得到 FWHM=219ps,两者十分符合。
作者 王丽君 征洋
机构地区 安徽师范大学
出处 《实验室研究与探索》 CAS 1991年第4期80-82,共3页 Research and Exploration In Laboratory
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