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深亚微米同步辐射x射线光刻模拟

Deep sub-micron synchrotron radiation x-ray lithography simulation
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摘要 用束衍生法研究了深亚微米同步辐射 x射线光刻中掩模吸收体的光导波效应 ,并对 x射线光刻后的光刻胶剖面进行了理论计算。采用面向对象技术 ,研制了一个取名为 XLLS1 .0的模拟软件。 The beam propagation method is used to investigate the absorber waveguide effect in deep micron synchrotron radiation x ray lithography,and the resist profile after x ray exposure is calculated theoretically.Using object oriented programming technology,a simulation software called XLSS1 0 has been developed recently.The detail of this software is described in this paper.
出处 《半导体情报》 2001年第6期36-38,44,共4页 Semiconductor Information
基金 国家"九五"科技攻关资助项目 (97-762 -0 3 -0 3 )
关键词 X射线光刻 模拟 同步辐射 深亚微米 半导体工艺 x ray lithography simulation synchrotron radiation beam propagation method object oriented programming
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