摘要
简单论述了大功率MOS晶体管稳态热阻的测量原理,以及实现快速测量的必要途径,重点叙述了解决测量结果重复性的建议。
出处
《电子标准化与质量》
2001年第6期40-42,共3页
Electronic Standardization & Quality
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