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准连接波雷达数字信号处理机的BIT设计

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摘要 详细介绍了连续波雷达数字信号处理机系统级机内测试(BIT,built-in self-sest)方法,该方法设计简单,观测直观,易于实现,故障覆盖率高。
作者 姬长华
出处 《电光系统》 2002年第1期23-26,共4页 Electronic and Electro-optical Systems
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献3

  • 1孙亚民,1997年
  • 2曾芷德,数字系统测试与可测性,1992年
  • 3沈嗣昌,数字电路故障诊断,1991年

共引文献2

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