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PZT薄膜的晶格常数与其厚度的关系
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摘要
对磁控溅射法在YBa2Cu3O7-δ缓冲层及SrTiO3(001)衬底上生长的Pb(Zr0.52Ti0.48)O3薄膜材料,应用X射线散射倒空间作图法研究了薄膜在垂直(a⊥)和平行(a||)于表面方向的晶格常数与其厚度的关系。研究结果表明,随着PZT厚度的增加,a⊥增加,而a||减小。这种晶格常数的变化,不能用一般的薄膜弹性畸变来解释,我们归结为晶体的尺寸效应起了很大的作用。X射线衍射的测量结果表明,随着PZT厚度的增加,其晶粒尺寸也增加。
作者
李超荣
刘保亭
等
机构地区
中国科学院物理研究所和凝聚态物理中心
中国科学院物理研究所、国家超导实验室和凝聚态物理中心
出处
《北京同步辐射装置年报》
1997年第1期62-63,共2页
关键词
PZT薄膜
晶格常数
厚度
铁电薄膜
X射线衍射
分类号
TM223 [一般工业技术—材料科学与工程]
O484 [理学—固体物理]
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北京同步辐射装置年报
1997年 第1期
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