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一种用于动态电流测试的故障模拟算法 被引量：1

A Fault Simulation Algorithm for Dynamic Current Testing
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摘要 本文针对动态电流测试 ,提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑门的动态电流通路故障模型。在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法。 Some new concepts of dynamic current path and dynamic current path fault, and the dynamic current path fault model of primary gates for dynamic (transient) current testing are presented in the paper A fault simulation algorithm based on wave simulation is given
作者 朱启建 邝继顺 张大方
机构地区 湖南大学计算机与通信学院
出处 《计算机工程与科学》 CSCD 2002年第2期54-58,共5页 Computer Engineering & Science
基金 国家自然科学基金资助项目 (60 173 0 42 69973 0 16)
关键词 动态电流测试 故障模拟算法 CMOS集成电路 波形模拟 动态电流通路故障 IDDT testing waveform simulation fault simulation dynamic current path fault
分类号 TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献13

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同被引文献3

引证文献1

二级引证文献1

计算机工程与科学
2002年 第2期

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