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通路时延测试综述 被引量：2

A Survey on Path Delay Testing
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摘要 本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述 ,阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类 。 This paper gives a survey of the recent development of path delay testing,introduces the classification of single path delay faults according to testability,and analyses three approaches to reducing the number of paths to be tested during path delay testing
作者 李华伟 闵应骅 李忠诚
机构地区 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室
出处 《计算机工程与科学》 CSCD 2002年第2期80-83,共4页 Computer Engineering & Science
基金 国家自然科学基金重点资助项目 (6973 3 0 10 ) 计算所领域前沿青年基金 (2 0 0 162 10 18)
关键词 通路时延测试 通路时延故障 可测试性 时间特性 delay testing path delay fault testability
分类号 TN79 [电子电信—电路与系统]
  • 相关文献

参考文献12

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二级参考文献6

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共引文献3

同被引文献9

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引证文献2

二级引证文献2

计算机工程与科学
2002年 第2期

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