摘要
表征器件单粒子敏感度的σ-LET 曲线是轨道翻转率预估的重要依据.利用兰州重离子加速器（HIRFL）加速的 35 MeV/u的36Ar离子和 15.14 MeV/u的136Xe离子得到的 32 kbit×8静态存储器（SRAM）IDT71256单粒子翻转的实验数据,用Weibull和Lognormal两种函数拟合获得了完整的σ-LET 曲线,对两种拟合结果的差别进行了讨论,并在拟合参数的基础上估算了地球同步轨道和两条太阳同步轨道辐射环境中IDT71256的翻转率.
出处
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第5期342-344,共3页
Chinese Science Bulletin
基金
本工作为国家自然科学基金(批准号:19775058
10075064)
中国科学院"九五"重大课题(批准号:KJ952-SI-423)资助项目
