ZD-B智能电解测厚仪在铜锌合金镀层中的应用

我所受原国家机械委科技司委托,研制成功带美国INTEL公司八十年代推出的MCS-51系列单片微处理器的智能电解测厚仪,并于1988年元月通过技术鉴定。现已批量生产并销往全国各地。最近我们对仪器电路作了若干改进,根据用户的要求,对铜锌合金镀层测厚进行了研究,实践证明测厚精度符合国际标准,简介如下。