摘要
简要地介绍了纳米半导体材料表面形貌、位错缺陷的观测手段与方法以及研究量子点的发光行为和光学性质的手段与方法。
The observation method of the surface form,defection of nano semiconductor material is introduced in this paper,the method in studying of the luminous manner and the optical characteris-tics of quantum dot are also given.
出处
《微纳电子技术》
CAS
2002年第3期2-5,32,共5页
Micronanoelectronic Technology
基金
国家重点基础研究发展规划项目(G2000068300)
