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采用俄歇电子能谱技术分析铂化硅的合金行为 被引量:1

Study on alloying behaviour of platinum silicide with AES
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摘要 采用俄歇能谱技术分析了铂层厚度,合金温度及表面染色对铂化硅形成的影响,并分析了王水对铂化硅的作用,给出了分析结果。 In this paper , the influences of various parameters , such as Pt thickness alloyingtemperature and surface dyeing , on forming platinum silicide and the action of aqua regia on Ptsilicide were analyzed with AES. The result is given .
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期73-76,共4页 Semiconductor Technology
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