锁相集成电路测试中问题的探讨
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1吴政德.BJ3140型中大规模字集成电路测试系统简介[J].微电子测试,1993,7(2):33-35.
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2栗学忠,王忆文,静恩军.CMOS集成电路测试中的几个问题[J].微处理机,1993,14(4):40-44.
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3栗学忠.CMOS集成电路测试中的几个问题[J].微电子测试,1994,8(4):17-21.
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4郭卓粱.集成电路测试的质量[J].电子测试,1998,11(7):16-17. 被引量：1
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5南山.2000年的集成电路测试[J].电子测试,2000,13(6):210-211.
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6王福昌.集成锁相环CD4046性能分析[J].无线电工程,1992,22(3):1-10. 被引量：5
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7崔德勋.集成电路测试所面临的挑中医及其对策[J].电子参考,1991(16):1-4.
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8思蒙.集成电路测试仪器选购点滴[J].电子测试,1998,11(7):33-35.
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9陆重阳,卢东华,文爱军.集成电路测试及其发展趋势[J].中国集成电路,2002,0(6):89-91. 被引量：3
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10周红,沈森祖.集成电路测试记录数据库管理系统简介[J].计算机杂志,1992,20(5):37-40.
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