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CMOS电路可测性设计的新方案

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作者 Favali,M 铨方
出处 《微电子测试》 1991年第4期37-43,10,共8页
关键词 CMOS 数字集成电路 测量 设计
分类号 TN432.02 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献
微电子测试
1991年 第4期

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