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P—N结磨角器的设计,误差分析和选用
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作者
王彦才
出处
《微电子测试》
1991年第4期15-19,共5页
关键词
半导体器件
工艺
磨角器
设计
误差
分类号
TN305.2 [电子电信—物理电子学]
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微电子测试
1991年 第4期
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