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光热光偏无损检测技术
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摘要
光热光偏无损检测,是80年代初期发展起来的一种新技术。它的突出优点是具有较高的检测灵敏度,响应快,可作实时无损测量,缺点是容易受周围环境条件的干扰。因此,作为一种实用的无损检测手段,它目前尚有一定的局限性,有待深入研究,解决难点,以便推广应用。本文仅就光热光偏无损检测的原理,检测参数的选取和应用前景作简要介绍和讨论。
作者
吴杰
陈钟贤
机构地区
哈尔滨工业大学
出处
《红外技术》
CSCD
1989年第4期16-18,共3页
Infrared Technology
关键词
无损检测
光热光偏
检测
分类号
TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]
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红外技术
1989年 第4期
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