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低温试验台

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摘要 洛克威尔(Rockwell)国际公司利用一台在器件装卸、数据采集、照度和生产能力方面有最新技术的全自动低温试验台,实现了对红外焦平面阵列的迅速测试。该试验台可对用完全合格的生产设备制造的HgCdTe焦平面阵列进行测试。这个生产设备的各部分都处在包括自动试验台的硬件和软件在内的“质量控制”的监视下。正式发表的程序规定了操作人员与这试验台的相互配合。测试结束时,计算机产生的数据组和磁带随红外焦平面阵列产品一起提供。该试验台证实了焦平面产品自动测试的水平,为了满足将来对高级成象器件在降低成本方面的要求,该试验台实现了洛克威尔国际公司的许诺。
作者 张重熙
出处 《红外与激光技术》 CSCD 1989年第2期67-69,共3页
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