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非晶硅磷合金红外及光学性质研究

Study of IR and Optical Properties of Amorphous Silicon-Phosphorus Alloy Films
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摘要 本实验采用辉光放电法制备出 a-SiP∶H 合金薄膜。用光电子能谱、电子衍射、红外光谱以及密度测试确定了合金的组成和结构。在分析了测试结果的基础上总结出:在非晶硅网络中,加入第二种合金组元 P 以后,键强及化学、结构有序度的变化对非晶合金的扩展态及带尾态起着决定作用,从而定性地解释了非晶合金光能隙、光学常数随成份的变化规律。 Electron diffraction,infrared spectra,XPS and density of a-SiP:H alloy filmsprepared by rf glow discharge decomposition of SiH_4-PH_3 mixtures have been mea-sured.Based on the analysis of above measurements,we have concluded that thevariation of bond strength and locally chemical and structural order in the amor-phous silicon matrix,when adding the second alloy element,phosphorus,in thesystem,has a definitive influence upon the localized tail states and extented bandstates.Finally,we have explained the dependence of refractive index and opticalgap on compositions of the alloys.
出处 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期77-80,共4页 Journal of Inorganic Materials
基金 国家自然科学基金的资助 项目号 181231860709
关键词 硅磷合金 光学性质 非晶硅薄膜 Silicon Optical properties Silicon-phosphorus alloy Amorphous silicon film
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Wu Zongyan,Chin J Semicond,1984年,5卷,1期,113页
  • 2Liang P H,Appl Phys A,1981年,26卷,1期,39页
  • 3Shen S C,Phys Rev B,1981年,23卷,10期,5322页

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