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降低半导体器件失效率的有效措施 被引量:1

Effective Measures to Reduce the Failure Rate of Semiconductor Devices
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摘要 要提高电子产品的可靠性水平,必须加强对元器件的质量管理。本文系统地介绍了采用优选生产厂家、高温贮存、功率老化、质量信息反馈、改善检测手段等方法来降低半导体器件的失效率,提高整机的可靠性。实践证明,这些措施简单有效。 To improve the reliability of electronic products, a good quality control over components is a necessary. Introduced are some measure, including selecting manufacturer, performing electric ageing test and high temperature storage life test, improving test equipment, and adopting quality information feedback system with the aim of reducing the failure rate of semiconductor devices to improve the reliability of equipment. All the measures have been proved to be simple and effective.
作者 金雷 金阳
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期28-29,32,共3页 Electronic Components And Materials
关键词 半导体器件 失效率 电子产品 可靠性 semiconductor devices failure rate effective measures
  • 相关文献

参考文献2

  • 1童诗白.模拟电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,1988..
  • 2纪玲.电子元器件失效率数据集(五)[M].北京:中国电子产品可靠性数据交换网出版,1987.61–111.

共引文献69

同被引文献5

引证文献1

二级引证文献3

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