期刊文献+

电荷耦合器在微孔测量中的应用

Application of Charge-Coupled Device (CCD) in Testing Diameters of Small Apertures
原文传递
导出
摘要 本文提出了一种利用激光非接触式测量微小孔径的方法。该方法以小功率激光器与被测小孔作为光学检测系统,以高分辨率电荷耦合器及单板机作数据采集与处理系统,可实现高精度、自动检测和连续显示。实验结果证明该方法切实可行。 This paper presents a method of using optical non-touching diffraction technique to test diameters of small apertures. Since this method uses charge-coupled devices and single board computer as photoelectric conversion and data processing system, it could realize high precision and automatic measure. Experimental results showed this kind of method can be in a good work.
出处 《西安公路学院学报》 CSCD 北大核心 1991年第4期83-86,共4页
关键词 电荷耦合器 微孔 测量 数据处理 charge-coupled devices (C C D) A/ D conversion data processing optical testing Fraunhofer diffraction
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部