NI公司发布可降低测试成本的边界扫描技术
出处
《国外电子测量技术》
2002年第1期48-48,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
-
1NI推出LabVIEWFPGA预展系统[J].世界产品与技术,2003(1):88-88.
-
2魏方.改进的边界扫描技术和测试工具将产生接近100%的错误覆盖率[J].国外电子测量技术,1996,15(3):35-35.
-
3车明康.用边界扫描技术解决复杂电路板的测试问题[J].电子工业专用设备,1990(2):35-39.
-
4徐勇,魏炜,川端雅之,小圆祐一,浅见幸司.通信类SoC测试方案[J].中国集成电路,2003,12(46):89-91.
-
5Agilent N4906B新型串行误码测试仪[J].电子测量技术,2005,28(3):48-48.
-
6NI推出全新的高性能紧凑型视觉系统[J].电子技术（上海）,2004,31(1):63-63.
-
7PXI矢量网络分析仪降低测试成本[J].今日电子,2013(1):71-72.
-
8马华玲,左谨平.基于NI Multisim10的函数发生器设计与仿真[J].电子技术（上海）,2010(12):35-36. 被引量：2
-
9徐磊,孙义和,陈弘毅.基于扫描的低测试功耗结构设计[J].计算机研究与发展,2001,38(12):1423-1428. 被引量：4
-
10马少霞,孟晓风,钟波.基于边界扫描技术的测试系统设计[J].电子技术应用,2006,32(1):95-97. 被引量：6
;
