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可测试性设计的JTAG方法被引量：1

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摘要本文将从边界扫描路径,测试体系结构,测试状态定义,测试指令安排与板级测试策略五个方面,介绍VLSI电路可测试性设计的JTAG方式.

作者沈绪榜

机构地区陕西微电子学研究所

出处《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 1991年第1期10-18,共9页 Journal of Chinese Computer Systems

关键词 VLSI 集成电路可测试性 JTAG法

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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小型微型计算机系统

1991年第1期

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