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竞争冒险探讨及测试 被引量:2

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摘要 研究数字电路竞争冒险成因,由此产生一种新的图解法,并提出一个基于实测的标准及其检测方法.
作者 陈柏成
出处 《实验技术与管理》 CAS 2002年第3期40-42,共3页 Experimental Technology and Management
  • 相关文献

参考文献2

  • 1肖雨亭.数字电子技术[M].北京:机械工业出版社,1990..
  • 2陈柏成.数字电路实验[M].广州:广州大学电子系印,1994..

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