摘要
用X射线衍射研究粒度 10 .86～ 0 .12 4μm系列WC粉末的粒度效应。随粒度变小 ,衍射线线形发生明显变化 ,从敏锐到极其漫散。亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化 ,半高宽是度量粒度效应的主要指标 ,而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量。极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2θ位置明显偏离平衡位置 ,这与临近纳米粒度有关。WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 ,衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系。应用WC粉末X射线衍射的粒度效应 ,尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度 ,是有应用前景的。
Effects of WC powder particle sizes from 10.86 to 0.124?μm were investigated by X-ray diffraction. With the size fined,X-ray diffraction spectra change as follows: X-ray diffraction profiles evidently vary from sharp to diffuse, spectral line broadening, intensity changing, and diffraction peak (2θ) removed.
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期442-447,共6页
The Chinese Journal of Nonferrous Metals
关键词
粒度效应
X射线衍射
谱线宽化
碳化钨粉末
硬质合金
WC powder
particle size
effect of particle size
X-ray diffraction
line broadening
