测量磁涂层厚度的一种准确方法

A RIGOROUS METHOD OF MAGNETIC-LAYER THICKNESS MEASUREMENT

一、引言 根据磁记录理论,记录密度D和输出幅度E(?)与磁涂层厚度t_m之间的关系由如下等式确定 由上面的等式可知,减薄t_m是提高记录密度的重要途径;而当记录时被磁化了的记录深度大于t_m时,输出幅度又随着t_m的减薄而下降。同时,要准确测量剩磁B_r,就必须准确地测量t_m。由此可见,磁涂层厚度是磁记录介质的一项重要指标。 为了优化软磁盘和磁带的生产工艺,我们提出用扫描电镜准确的测量磁涂层厚度。

In this paper, we propose a rigorous method of magnetic-layer thickness measurement by means of scanning electron microscopy (SEM). The sample manufacturing technique is introduced, and the SEM pictures of the magnetic-layer thickness of a flexible disk are given.