关于“应用功率谱测量振动表面声强”的讨论

在“应用功率谱测量振动表面声强”(刊于《噪声与振动控制》1990年第4期,以下简称“应”)文中引用了[1,2]中振动表面声强谱为质点振速与声压互功率谱的实部,测量中测量仪器两通道的相位差对测量结果有严重影响。两通道的相位差包括声传感器和加速度传感器(测振速用)的相位差和放大通路的相位差,即使两个同类型传感器,其相差也是难以控制,至于两个不同类传感器,由于原理与结构不同,其相差更是难以估计和控制。为了避开这个困难,“应”文作者用声压自功率谱G_p(ω),声压自功率谱梯度(?)G_p/(?)n(?),及振速自功率谱G_u(ω)来估算振动表面声强,这是有意义的设想。