摘要
Si(Li)探测器引起的同步辐射X射线荧光(SR-XRF)谱中的逃逸峰,严重干扰利用XRF谱进行的定性和定量分析。对实验中的逃逸峰进行了鉴别。测定了14个样品的从K Kα到As Kα12个元素的标识谱的逃逸峰的强度和峰位。比较了逃逸峰与最近主峰能量差的实验值和标准值,一般误差小于10%。用简化的X射线激发的SiKα分布出射模型,计算元素逃逸峰强和其主峰强的比值,发现随原子序数增加,实验和理论比值都从约1%下降到0.1%左右。
出处
《高能物理与核物理》
CSCD
北大核心
2001年第B12期39-43,共5页
High Energy Physics and Nuclear Physics