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Co/Cu多层膜反铁磁第一、第二峰耦合结构的磁电阻与结构研究

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摘要 确定了Co/Cu多层膜的第一和第二反铁磁耦合对应的非磁层(Cu)的厚度,对相同厚度铁磁层(Co)制备了第一与第二反铁磁耦合的Co/Cu多层膜,利用同步辐射掠入射X射线散射(衍射)技术研究了耦合多层膜的界面结构,探索了耦合多层膜中磁电阻增强的可能原因。
作者 谭伟石 王俊
出处 《高能物理与核物理》 CSCD 北大核心 2001年第B12期106-109,共4页 High Energy Physics and Nuclear Physics
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