摘要
本文提出了一种简洁有效的、针对ASIC中记忆部件的易测试性设计技术 ,可消除部分不可测故障 ,提高故障覆盖率。
A new,simple and effective DFT technology for the memory units in ASIC is presented in this paper to test some untestable faults and improve the fault coverage ratio.
出处
《计算机工程与科学》
CSCD
2002年第4期68-70,共3页
Computer Engineering & Science
基金
国家自然科学基金重点项目资助 (6993 3 0 3 0 )
国家"八六三"高技术研究发展计划基金 (863 3 0 6 ZD11 0 1 1)
教育部"跨世纪优秀人才培养计划基金"资助项目 (教技函 [2 0 0 0 ] 1号文件 )
