期刊文献+

电解铜箔光面黑点产生原因分析

下载PDF
导出
摘要 随着社会的发展,高性能的电解铜箔需求越来越多。为了生产高质量的电解铜箔产品,我们得了解哪些原因导致质量低,光面黑点是其中的一种原因,因此,本文简要介绍电解铜箔光面黑点的定义及判定方法。详细介绍黑点产生的各种原因及解决办法和带来的质量问题。
作者 刘焕添
出处 《科技风》 2014年第12期250-250,252,共2页
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献14

  • 1陈文录,丁万春,穆敦发.酸性脉冲电镀铜中脉冲参数的作用研究[J].印制电路信息,2003(3):59-65. 被引量:9
  • 2苏培涛,梁维元.脉冲电镀最佳参数之探索和优化[J].印制电路信息,2003,11(11):32-34. 被引量:3
  • 3王双民.脉冲电镀对铜层空隙率的改善[J].腐蚀与防护,2005,26(3):123-123. 被引量:6
  • 4覃奇贤.电镀原理与工艺[M].天津:天津科学技术出版社,1993..
  • 5TZANAVARAS A,YOUNG G,GLEIXNER S.The grain size and microstructure of jet-electroplated damascene copper films[J].J of The Electrochemical Society,2005,152 (2):C101-C107.
  • 6IBANEZ A,FATAS E.Mechanical and structural properties of electrodeposited copper and their relation with the electrodeposition parameters[J].Surface & Coatings Technology,2005,191:7-16.
  • 7GANDIKOTA S,DUBOUST A,NEO S,et al.Extension of copper plating to 0.13 μ m nodes by platingmodulated plating[A].Proc of IEEE Int Conf on Interconnect Technology[C].NY,USA,2000:239-241.
  • 8SEAH C H,YOU G Z,K M MAR R,et al.Characterization of electroplated copper films for three dimensional advanced packaging[J].J of Vacuum Society Technology,2004,B22 (3):1108-1113.
  • 9LEE Y,JO Y S,ROH Y.Formation of nanometer-scale gaps between metallic electrodes using pulse/DC plating and photolithography[J].Materials Science and Engineering,2003,C23 (8):833-839.
  • 10HU C C,WU C M.Effects of deposition modes on the microstructure of copper deposits from an acidic sulfate bath[J].Surface and Coatings Technology,2003,176 (1):75-83.

共引文献35

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部