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SDRAM存储芯片内存单元自动化测试程序设计

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摘要 SDRAM的同步动态存储可流水线操作指令,体现实时和省时的特点,但其本身存在的掉电数据丢失的缺点使得其在应用中进行SDRAM存储芯片内存单元读写的测试非常重要,否则可导致装置无法正常工作。本文就SDRAM存储芯片与ARM芯片配合使用的自动化测试进行详细阐述。
出处 《电子世界》 2014年第14期189-190,共2页 Electronics World
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