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一种高di/dt栅控晶闸管的三重扩散工艺优化

An Optimization of Triple Diffusion Process for MCT with High di/dt
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摘要 传统栅控晶闸管(MCT)的制造工艺中存在阱区浓度调整与器件性能最大化之间的矛盾,提出了一种具有高电流上升率的制造工艺的优化,实现了具有更高正向电流能力与低阈值电压的MCT器件。结果表明该工艺制造的MCT在脉冲放电应用中电流上升率(di/dt)较传统工艺所制造的器件提高15%,最大工作温度降低33%,热逸散速度提高36%。 As there are contradictions among the adjustment of well concentrations and device performances,in the paper,an optimization of triple diffusion process for MCT with high di/dt is proposed,which can realize MCTs with high current ability and low threshold voltages.Meanwhile,the fabricated MCTs show a 15% rise in di/dt rate,a 33% reduction in maximum temperature and a 36% rise in heat runaway speed in pulsed power discharge.
出处 《电子与封装》 2014年第7期29-33,共5页 Electronics & Packaging
基金 国家科技重大专项(2011ZX02706-003) 预研项目(51308030407)
关键词 三重扩散 栅控晶闸管 电流上升率 脉冲放电 triple diffusion MCT current rising rate pulsed discharge
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献2

  • 1李学宁,第八届全国IC&Si材料学术会议论文集,1993年
  • 2Huang Q,SSE,1992年,35卷,2期,187页

共引文献2

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