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安捷伦推出最新多通道PXI测试解决方案,加速生成和分析LTE/LTE-Advanced波形

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摘要 2014年7月4日,北京——安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布推出LTE/LTE—Advanced多通道PXI测试解决方案。该方案可加速配置多通道测试系统,有助于工程师进一步完善其复杂的载波聚合和空间多路复用MIMO设计。
出处 《电子测量技术》 2014年第7期139-140,共2页 Electronic Measurement Technology
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