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电子显微镜样品室低温区由77°K扩展到4.2°K附近的变温装置

A temperature extended cryostat to work at around 4.2°K from 77°K for TEM
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摘要 本文通过对日产JEM-6C透射式电子显微镜样品室的环境温区,由77°K扩展到4.2°K附近的改造设计,达到揭示新材料在该温区特性的目的。 We re-designed the cryostat of Japan-made JEM-6C transmission electronic microscope and managed to extend the working temperature range from 77°to around 4.2°K.This development thus enables this device to reveal some characteristics of novel materials at this temperature range.
作者 张解东
机构地区 北京大学
出处 《现代仪器》 2002年第4期44-47,共4页 Modern Instruments
关键词 电子显微镜 样品室 低温区 变温装置 冷阱 蒸发率 热导率 Low temperature Cryostat Transition temperature Liquid helium trap Evaporation rate Thermal conductivity
  • 相关文献

参考文献3

  • 1G.K.怀特.低温物理实验技术[M].北京:科学出版社,1962..
  • 2R.B.斯和特 舒泉声等(译).低温工程[M].北京:科学出版社,1977.168-195.
  • 3胡连方.-[J].低温与超导,1984,:11-14.

共引文献1

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