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同步辐射X射线干涉的实验研究

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摘要 介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究,在X光底片上观察到了Moire干涉条纹,为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。
出处 《同步辐射装置用户科技论文集》 1998年第1期161-165,共5页
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