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光学面形检测仪

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摘要 该仪器采用相移式横向剪切干涉技术,是一种数字波面测试技术。其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化,从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描,用CCD相机获取干涉场中各点的光强,利用图像中各点光强的变化关系,求出被测波面的位相信息或波面面形。由于横向剪切干涉技术是利用被测波面自身实现干涉的,不需要标准的参考面,测试装置简单、测量速度快、测量精度高,且可以实时对剪切干涉图进行采集与处理,得到被测原始波面的信息。
作者 苗静
出处 《西安工业大学学报》 CAS 2014年第7期574-574,共1页 Journal of Xi’an Technological University
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