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基于半导体光电器件的光电性能检测仪研究 被引量:1

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摘要 在电子设备中有越来越多的半导体光电器件得到应用,日常的实验中也经常能见到它们。半导体光电器件应用于光电性能检测仪可以快速地检测元件的光电特性,并绘制出光强电压曲线、电流电压曲线。本文着重介绍了该检测仪的设计思路。
作者 姜经纬
出处 《漯河职业技术学院学报》 2014年第5期24-25,共2页 Journal of Luohe Vocational Technical College
  • 相关文献

参考文献3

  • 1高峰.单片微型计算机与接口技术[M].北京:科学出版社,2007.
  • 2康华光.电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,2006.
  • 3戴仙金.5l单片机开发实例[M].北京:清华大学出版社,2006.

共引文献71

同被引文献2

引证文献1

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