摘要
北京工业大学可靠性物理研究室的研究团队自主研发出了TTE系列热阻测试仪,可将器件热阻的构成信息进行提取、放大,直观地展示在人们眼前,这相当于为人们添加了一副能够看透从芯片到散热器的“眼镜”,可以分辨出各部分的热阻或对温升的贡献。作为当今高新技术的重要基本单元,基于半导体材料的微电子和光电子器件与人们的生活息息相关,无论是在航空航天领域的火箭、大飞机,还是日常生活中的智能手机、平板电脑中,人们都能够直接或间接地感受到它们所带来的便利。
出处
《科技纵览》
2014年第9期60-61,共2页
IEEE Spectrum