期刊文献+

微孔缺陷对晶硅太阳电池性能的影响研究

下载PDF
导出
摘要 铸锭晶硅材料的微孔缺陷,是影响太阳电池光电转换性能的重要因素。本文对晶硅材料的微孔缺陷在电池工艺中的形态变化进行了研究,试验结果证实,该微孔缺陷是导致电池并联电阻降低的主要原因。本文利用透光测试技术分析了晶片中的微孔缺陷,结合激光扫描共聚焦显微(LSCM)技术对漏电区域的形貌进行分析研究,实验结果表明,微孔缺陷与电极重合将导致表面金属浆料的塌陷,是形成电池漏电的主要原因。
出处 《太阳能》 2014年第10期27-29,共3页 Solar Energy
基金 "863"计划"效率20%以上低成本晶体硅电池产业化成套关键技术研究及示范生产线"(2012 AA050301)
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Nikolai Kolesnikov, Elena Borisenko. Modem aspects of bulk crystal and thin film prepatation[M]. Croatia: lnTech 2012, 46 68.
  • 2Breitenstein O, J Bauer, Trupke T, et al. On the detection of shunts in silicon solar cells by photo-and electroluminescence imaging[J]. Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 2008, 16, 325 - 330.
  • 3Victor Prajapati, Emanuele Cornagliotti, Richard Russell, et al. High efficiency industrial silicon solar cells on silicon Mono2TM cast material using dielectric passivation and local BSF[A]. 24th European Photovoltaic Solar Energy Conference[C], Hamburg, 2009.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部