Perl语言在wafer测试数据分析和处理中的应用

半导体wafcr测试过程中，ATE设备会生成大量的测试数据，测试工程师经常需要对这些海量的测试数据做分析和处理，以便找出测试结果的趋势和规律。传统的借助于OFFICE软件的方法，往往存在效率低下，错误率高等缺点，本文介绍了一些借助于Pefl语言对Wafer测试数据进行分析和处理的方法。这些方法可以大大提升wafer测试数据分析和处理的效率，以便工程师在最短的时间归纳总结出测试结果。