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基于线偏振扫描法的偏振相关损耗测试仪设计

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摘要 使用线偏振扫描法来对光无源器件的偏振相关损耗进行测量,采用了基于单片机的步进电机带动偏振片旋转。重点阐述光路设计和偏振模块设计,并且搭建实验装置验证了设计的结果,偏振相关损耗的测量误差在±0.02dB。
出处 《信息通信》 2014年第10期53-55,共3页 Information & Communications
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