期刊文献+

影响引线框架镀锡的塑封胶渣的去除

下载PDF
导出
摘要 微电子产品电镀锡时,必须把封装工序在引线框架上产生的胶渣清除干净,否则在电镀过程中会造成露铜,镀层发花,焊接性能不好等缺陷,影响微电子产品电性能参数的漂移。除塑封胶渣是微电子镀锡中重要的工序。胶渣的形成是在塑封工序中,引线框架与塑封模具之间有缝隙,由于环氧树脂模塑料须在加温加压下固化,注进的压力过大,合模的压力过小,环氧模塑料从缝隙中与模具的缺陷处挤出来,在引线框架上形成“胶渣”或称“溢料”。
作者 张文仲
出处 《电镀与精饰》 CAS 北大核心 2014年第11期32-32,共1页 Plating & Finishing
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部