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NI携手用户再攀测试测量高峰——NIDays 2014全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕
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摘要
2014年11月14日,NIDays 2014在北京万达索菲特大酒店圆满落幕。此次NIDays以"You and NI will"为主题,通过2大专家级主题演讲、20多场技术讲座、30多个互动性演示、7个新产品发布向来自不同领域的600余位工程师和20多家行业媒体展示了基于NI图形化系统设计平台的最前沿的技术创新和应用解决方案。
作者
贾静
出处
《国外电子测量技术》
2014年第11期16-17,共2页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
NIDAYS
2014
新产品发布
索菲特
万达
技术创新
媒体展示
自动化测试
创新机会
软件工具
测试成本
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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1
You and NI Will[J]
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2
王丽英.
与NI携手,加速应用创新,解决未来挑战——NIDays 2014见闻[J]
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3
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图形化系统设计平台助力工程师实现超越——记NIDays 09全球图形化系统设计盛会中国站[J]
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4
张莹.
NIDays 2011全球图形化系统设计盛会中国站圆满落[J]
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5
NIDays 2013全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕[J]
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6
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9
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10
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国外电子测量技术
2014年 第11期
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