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金属铋纳米带表面态的拓扑性质获新实验证据

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摘要 近年来对半金属铋(Bi)是否具有拓扑绝缘体性质存在争论,一直缺乏直接的电输运证据。中国科学院强磁场科学中心田明亮研究员课题组在相关研究方面开展了深入的研究,相关研究成果近期发表在Nature出版集团旗下的《科学报道》(Scientific Reports)上。在前期的研究中,课题组通过强磁场下的量子输运行为测量,首次给出了超薄Bi纳米带中存在二维金属表面态的直接证据,同时发现该金属表面态有可能是拓扑保护的。
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2014年第12期81-81,共1页 Electronic Components And Materials
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